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JSM-7200F高速分析热场发射电镜是日本电子株式会社(JEOL Ltd.)于2015年推出的一款多功能、简单易用的分析型场发射扫描电镜,这款高分辨率扫描电镜是进行样品纳米级图像显微分析与微区化学成分分析的理想选择。通过醉佳光阑角控制透镜技术,JSM-7200F可以在任意加速电压下实现小束斑尺寸的大分析束流进而可以轻松实现100nm以内的高空间分辨率分析。
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