Guinier低温环境XRD

Guinier低温环境XRD产品介绍：

德国HUBER快速X射线粉末衍射仪，高精度的机械加工，丰富了X射线衍射仪的使用场景，扩大了使用范围，该系统可分别实现“微量、高压、高温、超低温、单晶测量”等全部要求。

Guinier超低温高精X射线粉末衍射仪运用成像板技术，通过成熟的工艺技术，配合温度调节配件，可对低低至4K的粉末样品进行X射线衍射测量。

以下将详细介绍以Guinier Camera G670相机及超低温系统Low Temperature Device670.4为核心构造的快速超低温高精X射线粉末衍射仪。

*的成像板技术

由聚酯制成的柔性安装箔上涂有由晶体组成的均匀粉末的发光存储材料(颗粒大小约0.005mm)，即由氟化钡和微量二价铕组成的光刺激荧光粉作为发光中心(BaFBr:Eu2+)。

图像存储箔片位于Guinier相机670中，敏感面向内，对准在半径为90mm的焦圆上。它的曝光方式与以前使用的湿法影印技术相同。之后，在约5秒的时间内，用垂直的线性红色二极管产生的激光束扫描成像板。

由此产生的蓝色光激励发光(PSL)从受X射线照射的区域发出，在扫描过程中由光电倍增管放大，然后记录。初始的模拟信号通过一个16位的A /D转换器转换成数字计数。

通过白色卤素灯，可以在10秒内擦除已储存的图像结构，并支持下一次成像。

除图像存储箔外，670相机的外壳还包括带有光电倍增管和前置放大器的激光记录单元，以及卤素擦除灯。

这款Guinier粉末衍射仪集成了传统的湿法影印技术的高分辨率，及图像板检测技术的高灵敏度。因此，它能够在尽可能短的时间内提供数字粉末衍射图，然后可以通过Rietveld分析或类似的方法进一步处理。

所提供的测量软件在MS-Windows下运行，并将多可达20001个计数点的衍射图文件存储成各类标准文件格式。

超低温装置

Low Temperature Device 670.4

粉末样品，可以在约12K至350 K之间进行研究。与标准样品台670.1类似，粉末被夹在两层聚酯薄膜之间。

冷却装置具有完整的几何设计结构，透射角为45°。样品被封装在一个冷却的铜块中，铜块周围有两个冷却罩。样品由位于低温恒温箱外的旋转条形磁铁振荡。空冷压缩机为闭式循环液氦冷却系统提供动力。温度由硅二极管和冷却头中的加热元件控制。

调节系统由电脑和的 RS232/IEEE488控制。配有完整的真空泵系统和所有必要的设备。

Guinier低温环境XRD技术参数：

计数点(max.)：20001

2-Theta范围 (max.) ：100°

2-Theta 步长：0.005°

A/D 分辨率：16 Bit

动态范围(multi-scan)：~200000 counts

读出时间：<5 sec

擦除时间：10 sec

焦圆半径：90 mm.

硬件要求

X射线光源：0.4*8 mm2垂直细线焦点

台面以上横梁高度：~275mm

桌面面积：~600*500mm2

19”机架，3个高度单位

    该系统以Guinier高分辨率相机及超低温系统Low Temperature Device670.4为主要核心组件，通过在此基础上搭建的超低温系统，以响应客户超低温条件下的粉末试样进行高精度测量的需求。