钨灯丝电镜(Tungsten Filament Electron Microscopy,WEM)是一种常见的透射电镜(TEM),利用结晶或非晶样品所产生的散射证据来分析材料结构。电子束被放射出来,经过聚焦实现功能的集成电路(ASIC)后聚焦到样品上,然后在样品上发生弹性和非弹性碰撞。不同反射角度的电子会产生不同强度的暗场和亮场效果,提供了微观结构的信息。
如何使用钨灯丝电镜?
1.准备完整设备,将标本拍摄模块安装到钨丝炉板下方。
2.使用纯酸和去离子水清洗标本,防止在取样时污染标本。
3.使用特制剪刀或者剪切机器准确切割样品。
4.将样品放置在聚焦棱镜上方的夹具中。
5.封闭开口,活塞推动杆上升将样品送入高真空壳体,然后必须密封。
6.液氮冷却钨丝炉达到所需温度,减带雜质并延长寿命。
7.确定所有的参数(如电流和衍射排除片)正确地设置。
8.通过摄像机和计算机软件进行记录和分析。
钨灯丝电镜的相关知识介绍:
1.钨灯丝是产生电子束的源头,它的尺寸和形状会影响电子束的大小和聚焦度。通常使用直径为0.3mm的钨丝。
2.电子束可以通过电子透镜来聚焦,从而控制电子束的直径和密度。
3.分辨率高达0.2纳米,可以观察到大量的微观结构和形态。由于其较高的分辨率和高质量的成像,它是物理、化学、生物领域等科学研究的重要工具之一。
4.主要用于观察非生物样品,如金属材料、半导体、陶瓷、塑料等材料的结构和表面形态。同时也可用于研究纳米材料、光学器件等领域。
5.钨灯丝电镜有两种基本类型:透射电镜和扫描电镜。透射电镜是利用电子束透过样品来形成图像,而扫描电镜则是通过扫描样品表面产生来自反射电子的信息来观察样品表面形貌。