X射线粉末衍射仪适用性很广，通常用于测量粉末、单晶或多晶体等块体材料，并拥有检测快速、操作简单、数据处理方便等优点。
X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。
X射线粉末衍射仪的应用介绍：
1，判断物质是否为晶体。
2，判断是何种晶体物质。
3，判断物质的晶型。
4，计算物质结构的应力。
5，定量计算混合物质的比例。
6，计算物质晶体结构数据。
7，和其他专业相结合会有更广泛的用途。
比如可以通过晶体结构来判断物质变形，变性，反应程度等
X射线粉末衍射仪使用的一些注意事项：
（1）固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。
（2）对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。
（3）对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。
（4）粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。
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